ARL QUANT’X X射线荧光能谱仪

　　提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。