X荧光光谱仪EDX 9000

　　更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 9000正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业最先进的极速探测器技术(SDD)可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器专利产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。