IXRF微区分析产品

　　IXRF 公司成立于1993年，位于美国德克萨斯州，专注于精确地微区痕量元素分析产品，包括能谱仪(EDS)和X射线荧光(XRF)。 本产品是把高性能的微型X射线管(两种可选)安装在SEM上，利用能谱仪探测器来接受信号，从而将XRF整合进SEM+EDS系统中，结合了EDS和XRF两者的优势，使其在元素分析方面有自己的独特之处，XRF分析具有对样品无破坏、可直接分析不导电样品、灵敏度更高，能实现PPM量级分析等优点，这是其它能谱产品所不具有的。这种SEM+EDS+XRF的元素分析方案目前已经在美国得到广泛推广和应用。

　　主要特点：

　　1、软件功能包齐全，终身免费升级，操作简单，可以很好地兼容钨灯丝、冷场和热场多种电镜，在低真空下可以补偿空气引起的误差。

　　2、独特的XRF功能。更高的峰背比，重叠峰少，灵敏度是EDS的10-1000倍，可以实现PPM级的痕量分析。

　　3、探测器。多种探测器(电制冷和液氮制冷)可供选择。最大分辨率可达到126eV。

　　4、X射线管。两种尺寸的X射线管，可以与能谱探测器任意搭配。