如在航空领域IEC 62396《航空电子设备过程管理-大气辐射效应》详细论述了大气中子诱发单粒子效应对元器件、设备、系统的影响和应对策略,并且大气中子单粒子效应也纳入了DO254的基础程序与认证方法的重点考虑因素。在地面交通领域,ISO26262将α粒子和大气中子诱发集成电路软错误作为系统安全的重要基础数据来源。...
单粒子效应(SEE)是空间电子系统必须面对和需要解决的另一个空间辐射问题。自1975年发现单个高能粒子能引起CMOS器件发生锁定(SEL)以来,不断发现由单粒子引起的器件失效情况,包括功率MOS器件发生烧毁(SEB)、单粒子栅穿(SEGR)、单粒子翻转(SEU)等现象。随着器件集成度的提高,以及工作电压的降低,器件对单粒子效应的敏感度也大幅度提高,成为影响航天器在轨运行的重要因素。...
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