SJ 2798-1987
电子级气体中颗粒的测定方法.光散射法
Method for determination of particles in electronic grade gases--Light scattering method
2010-02
- 标准号
- SJ 2798-1987
- 发布
- 1987年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ 2798-1987
- 适用范围
- 本方法适用于电子级氢、氮、氧、氩、氮中颗粒的测定，也适用于普通氢、氮、氧、氩、氦及其他无腐蚀性气体中颗粒的测定。
SJ 2798-1987相似标准
推荐
纳米材料的粒度分析（三）
纳米材料颗粒体系二次粒度统计分析方法，按原理分较先进的三种典型方法是：高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范围不同，又划分为光衍射法和动态光散射法。衍射法主要针对微米、亚微米级颗粒；散射法则主要针对纳米、亚微米级颗粒的粒度分析。电超声粒度分析方法是出现的粒度分析方法，主要针对高浓度体系的粒度分析。...
纳米材料的粒度分析
纳米材料颗粒体系二次粒度统计分析方法，按原理分较先进的三种典型方法是：高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范围不同，又划分为光衍射法和动态光散射法。衍射法主要针对微米、亚微米级颗粒；散射法则主要针对纳米、亚微米级颗粒的粒度分析。电超声粒度分析方法是最新出现的粒度分析方法，主要针对高浓度体系的粒度分析。...
纳米材料的粒度分析（二）
根据材料颗粒度的不同，既可采用一般的光学显微镜，也可以采用电子显微镜。光学显微镜测定防卫为0.8~150ųm，小于0.8ųm者必须用电子显微镜观察。扫描电镜和透射电子显微镜常用于直接观察大小在1nm~5ųm范围内的颗粒，适合纳里材料的粒度大小和形貌分析。显微镜法可以了解在制备过程中颗粒的形状，绘出特定表面的粒度分布图，而不只是平均粒度的分布图。...
各种粒度测试方法的优缺点有哪些？
（9）X射线小角散射法。用于纳米级颗粒的粒度测量。（10）光子相关谱法（动态光散射法）。用于纳米级颗粒的粒度测量。...