IEC PAS 60512-27-200:2018 电气和电子设备连接器测试和测量第 27-200 部分：IEC 60603-7 系列连接器上高达 2000 MHz 的信号完整性测试的附加规范测试 27a 至 27g 标准

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标准号: IEC PAS 60512-27-200:2018
发布: 2018年
发布单位: 国际电工委员会
当前最新: IEC PAS 60512-27-200:2018

引用标准: IEC 60050-581:2008 IEC 60512-1:2001 IEC 60512-26-100:2008 IEC 60512-27-100:2011 IEC 60512-28-100:2013 IEC 60603-7-1:2011 IEC 60603-7-2:2010 IEC 60603-7-3:2010 IEC 60603-7-41:2010 IEC 60603-7-4:2010 IEC 60603-7-51:2010 IEC 60603-7-5:2010 IEC 60603-7-81:2015 IEC 60603-7:2008 IEC 61156-10:2016 IEC 61156-1:2007 IEC 61156-9:2016 IEC 61169-16:2006 IEC 61935-1:2015 IEC 61935-2:2010 ISO/IEC 11801-1:2017 ITU-T G.117-1996
被代替标准: IEC 48B/2652/DPAS:2018

适用范围: IEC 60512 的这一部分涵盖了 IEC 60512-27-100 的信号完整性和传输性能测试方法的附加补充规范，适用于使用去嵌入串扰测量的连接器，这些规范在连接硬件的 IEC 60603-7 标准的相应部分中指定应用高达 2000 MHz。这些附加规范也适用于测试相关的低频连接器。然而，任何给定连接器的详细规范中指定的测试方法仍然是该连接器的参考一致性测试。受这些补充方法和程序影响的 IEC 60512-27-100 测试程序为：插入损耗，测试 27a；回波损耗，测试 27b；近端串扰（NEXT）测试27c；远端串扰（FEXT），测试27d；横向转换损耗（TCL），测试27f；横向转换传输损耗 (TCTL)，测试 27g。这里引用的其他测试程序是：传输阻抗 (ZT)，请参阅 IEC 62153-4-6 或 IEC 62153-4-7 中的测试程序；对于耦合衰减 (aC)，请参阅 IEC 62153-4-7 或 IEC 62153-4-12 中的测试程序。

IEC PAS 60512-27-200:2018
电气和电子设备连接器测试和测量第 27-200 部分：IEC 60603-7 系列连接器上高达 2000 MHz 的信号完整性测试的附加规范测试 27a 至 27g