GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory

GBT36477-2018, GB36477-2018


标准号
GB/T 36477-2018
别名
GBT36477-2018, GB36477-2018
发布
2018年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 36477-2018
 
 
引用标准
GB/T 17574-1998
适用范围
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

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