GB/T 41765-2022
碳化硅单晶位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide

GBT41765-2022, GB41765-2022


标准号
GB/T 41765-2022
别名
GBT41765-2022, GB41765-2022
发布
2022年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 41765-2022
 
 
引用标准
GB/T 14264 GB/T 30656
适用范围
本文件规定了碳化硅单晶位错密度的测试方法。 本文件适用于晶面偏离{0001}面、偏向<1120>方向0 °~8 °的碳化硅单晶位错密度的测试。

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