KS B ISO 10110-7-2017
光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第7部分:表面缺陷公差

Optics and optical instruments-Preparation of drawings for optical elements and systems-Part 7:Surface imperfection tolerances

2022-01

 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS B ISO 10110-7-2017 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
KS B ISO 10110-7-2017
发布
2017年
发布单位
KR-KS
替代标准
KS B ISO 10110-7-2022
当前最新
KS B ISO 10110-7-2022
 
 

KS B ISO 10110-7-2017相似标准


推荐

了解表面质量

光学组件表面质量是对可能会在制造处理过程中产生表面缺陷(划痕凹坑或麻点)评估。表面质量对激光应用比对成像应用更重要,因为表面缺陷可能会引发激光诱导损伤。需要大功率敏感系统也可能会因为表面缺陷而形成光通量变化散射增加。比起适用于可见光或 IR 系统光学元件,适用于 UV 波长光学元件表面质量公差要求更严格,因为波长越短,接受散射量越高。...

LAYERTEC镀膜生产检测技术

LAYERTEC已开发出一种自动化测量系统,用于检测分析光学表面缺陷划痕。该系统使LAYERTEC能够根据ISO 10110-7缺陷大小进行分类。因此,质量控制程序(如最终检验)得以简化,特别是对于规定缺陷尺寸低于25微米高质量光学元件。镀膜测量工具04简介精密光学光学涂层,常见激光器类型光学元件选择对于生产研发而言,质量控制非常重要。...

欢迎来到2024中国(深圳)电子元件及机电组件生产设备展览会

6.检测:超声波探伤仪器、电磁(涡流)检测仪器、磁粉探伤仪器、射线探伤仪器、渗透检验仪器、泄露检测仪器、声成像与声全息设备等;7.光学仪器及设备 :扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描探针显微镜、原子力显微镜、电子显微镜、光学显微镜、金相显微镜、光学测量仪器、光学实验设备、光学成像设备、光学图像处理及仪器与设备等8.分析与检测仪器:光罩缺陷检测、封装检测、表面分析仪器、粗糙度仪、扫描电子显微镜、薄膜厚度测量系统...

欢迎来到2024中国(深圳)线束线缆加工设备展览会

6.检测:超声波探伤仪器、电磁(涡流)检测仪器、磁粉探伤仪器、射线探伤仪器、渗透检验仪器、泄露检测仪器、声成像与声全息设备等;7.光学仪器及设备 :扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描探针显微镜、原子力显微镜、电子显微镜、光学显微镜、金相显微镜、光学测量仪器、光学实验设备、光学成像设备、光学图像处理及仪器与设备等8.分析与检测仪器:光罩缺陷检测、封装检测、表面分析仪器、粗糙度仪、扫描电子显微镜、薄膜厚度测量系统...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号