点击上方蓝字关注我们光学薄膜是现代光学技术中不可缺少的技术基础，随着薄膜技术和光电器件的广泛发展，对光学及电子元件表面光学薄膜的性能要求也不断提高，与之相对应的加工和检测技术也不断更新，精密测量对光学薄膜各种参数提出了更高的要求。光学薄膜具有改变介质的光学特性(如增透膜，高反膜等)，改进器件表面性能，扩展材料新的功能特性等优点。...
主要应用于测量光刻胶厚度、镀铬玻璃PR胶厚度、手机背壳硬化层厚度、PET及柔性材料光学膜、载玻片上有机涂层厚度、PC或玻璃上涂层厚度等。 F50系列膜厚仪 Filmetrics F50 膜厚仪 F50膜厚仪相比于F20系列依靠先进的测量系统，可以更简单快速地获取更大直径样品薄膜厚度分布图。样品最大直径可达到450毫米。...
薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度.光干涉法是一种无损,且快速的光学薄膜厚度测量技术,薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。...
好的样品是拍摄高质量透射照片的基本前提，所以这里还需要强调几点：（a）薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，这些组织结构不发生变化。尤其是在机械研磨过程中，力应该小一些，并需要用抛光或离子减薄消除表面硬化层。（b）薄膜样品应有一定强度和刚度，在夹持和操作过程中，在一定的机械力作用下不会引起变形或损坏。...
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