ASTM D7639-10
X射线荧光法测定金属基底上的锆处理重量或厚度的标准试验方法

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适用范围: 该测试方法中描述的程序旨在提供一种可以确定金属基材上锆处理的涂层重量的方法。本试验方法适用于含锆处理的总镀层重量和锆镀层重量的测定。
1.1 本试验方法涵盖使用 X 射线荧光（XRF）光谱法测定锆（Zr）的质量。 ) 金属基材单位面积的涂层重量。
1.2 涂层处理也可以用线性厚度单位表示，前提是涂层的密度已知，或者使用与待分析测试样本的处理相匹配的标准建立厚度测定的校准曲线。为了简单起见，该方法随后将参考以涂层重量表示的测定。
1.3 XRF 适用于测定各种金属基材上的锆涂层重量或含锆处理的总涂层重量，或两者。
1.4 给定涂层的最大可测量涂层重量是指超过该重量时涂层或基材的特征 X 射线辐射强度不再对重量的微小变化敏感。
1.5 以 SI 单位表示的数值被视为标准。
1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

ASTM D7639-10X射线荧光法测定金属基底上的锆处理重量或厚度的标准试验方法