IEC TS 61967-3:2005
集成电路.150 kHz 到 1 GHz电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method


 

 

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标准号
IEC TS 61967-3:2005
发布
2005年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC TS 61967-3:2014
当前最新
IEC TS 61967-3:2014
 
 
适用范围
IEC 61967 的这一部分提供了一个测试程序,定义了评估集成电路 (IC) 表面或附近的近电场、磁场或电磁场分量的方法。此诊断程序适用于 IC 拱形

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