GB/T 5095.2509-2020
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰

Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-9: Signal integrity tests-Test 25i: Alien crosstalk

GBT5095.2509-2020, GB5095.2509-2020


标准号
GB/T 5095.2509-2020
别名
GBT5095.2509-2020, GB5095.2509-2020
发布
2020年
采用标准
IEC 60512-25-9:2008 IDT
发布单位
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
当前最新
GB/T 5095.2509-2020
 
 
引用标准
IEC 60603-7-4:2005 IEC 606037 (所有部分) IEC 61076-3-104:2006
适用范围
GB/T5095的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。 组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方法进行试验。 本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式,以及评定来自所有其他端口的全部外来串扰。 本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器,尤其适用于IEC606037系列和IEC610763104中所叙述的连接器,以及用于数据传输的其他类型连接器。

GB/T 5095.2509-2020相似标准


推荐


GB/T 5095.2509-2020系列标准

GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分;总则 GB/T 5095.11-5095.12-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 GB/T 5095.11-5095.12-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分;锡焊试验 第六篇: 试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分;接触件和引出端的机械试验 第八篇: 试验15h 接触件固定机构耐工具使用性 GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分;一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:屏蔽和滤波试验 试验23c:连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射 GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验 试验23g:连接器的有效转移阻抗 GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比 GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗) GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延 GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗 GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动 GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰 GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分;载流容量试验 GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分;动态应力试验 GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分;撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分;气候试验和锡焊试验 GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分;机械操作试验和密封性试验 GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分;连接器、接触件及引出端的机械试验 GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分;杂项试验

GB/T 5095.2509-2020 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 5095.2509-2020 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号