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双液槽法2019-01-0123GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动2019-01-0124GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾2019-01-0125GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)2019-01-0126GB/T 4937.15-...
双液槽法GB/T4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动GB/T4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾GB/T4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)GB/T4937.15-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热GB/T4937.17-2018...
机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法2019/1/112GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动2019/1/113GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾2019/1/114GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)2019/1/115GB...
机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法2019/1/112GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动2019/1/113GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾2019/1/114GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)2019/1/115GB...
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