KS C IEC 60749-3-2021
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外部目视检查

Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 3: External visual examination

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标准号: KS C IEC 60749-3-2021
发布: 2021年
发布单位: KR-KS
当前最新: KS C IEC 60749-3-2021

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