IEC 61967-6:2002/AMD1:2008
集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

2010-09

 

 

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标准号
IEC 61967-6:2002/AMD1:2008
发布
2008年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 61967-6:2002/COR1:2010
当前最新
IEC 61967-6:2002/COR1:2010
 
 

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