因此,实验又测量了表面电势以确定AFM针尖/悬臂和样品表面之间是否存在静电效应,因为这种效应会扭曲PFM响应。图2(c)显示了测得的PPLN表面电势,与PZT薄膜相比,显示出更高的电势。这意味着在AFM针尖/悬臂和PPLN表面之间会产生很大的静电效应,这是由非常高的表面电势引起的,这可能会严重扭曲所测得的PFM响应。...
此报告重点介绍Lift模式以及在此模式下工作的电学测量方法静电力显微镜(EFM)和表面电势测量(KPFM),并展示如何通过与新的峰值力轻敲模式相结合,实现同时的电学与力学测量,以及达到更高的分辨率与准确度。该讲座与11月25日的电学模块讲座概况了布鲁克公司最重要的几种电学测量技术。 【主讲人简介】 孙昊博士,1982年10月出生于山东省济南市。...
总结 边带KPFM,可扩展在Park NX研究型设备中,对测量如F14H20类似的软样品以及半导体和金属材料提供准确的表面电势研究。对静电力梯度的依赖性显著提高了横向分辨率和电势灵敏度,使边带KPFM成为纳米尺度表面电势定量表征的理想技术。Source:1. Silva, G. M....
提出一种静电力显微镜测量表面电势的方法,解决了开尔文力显微镜表面电势测量范围有限的问题。该方法的优点在于:在不增加硬件投入的情况下,表面电势能的测量范围增加了;使得静电力显微镜(EFM)的相角测量和表面势能测量功能在同一个工作模式下进行,减少了探针起落容易引起的漂移、定位不准等问题;通过数学拟和得到特征曲线参数,在表面势较大时,可以估算出表面势大小。...
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