;具有分层功能特性的表面——第1至3部分https://www.iso.org/standard/22279.htmlhttps://www.iso.org/standard/22280.htmlhttps://www.iso.org/standard/26280.htmlISO 25178表面结构:区域法——第1至607部分https://www.iso.orgASME B46.1表面结构(表面粗糙度...
研究发现,岩石薄片原位观察显示在石英碎屑间出现的石墨颗粒是异源发生的,将浸泡获得的石墨盘状物应用激光拉曼光谱分析,结果显示石墨盘状物与其母岩同样经历了513±50ºC的高温变质,这也证明了这些石墨盘状物是原位保存的。大部分石墨颗粒在扫描和透射电子显微镜下,显示与变质作用和晶体生长相关的石墨晶体具有六边形轮廓等形态特征,但是,部分石墨盘状物显示了明显的边缘同心褶皱、表面皱纹和复杂的超微结构。...
两者均使用相同的均方根方法进行测量,但空间频率不同。其中:Rq:表面粗糙度(均方根偏差)Wq:表面波纹度(均方根偏差)T:一般表面结构(粗糙度或波纹度;均方根偏差)Lr:样本长度Z(x):沿X轴的表面轮廓图3:在给定采样长度上测得的粗糙度轮廓示例。Rq2表示均方根高度3.均方根斜率:与均方根粗糙度和波度类似,可以使用沿给定采样长度的表面的局部倾斜的均方根斜率来指定光学平滑表面。...
其中:Rq:表面光洁度(均方根偏差)Wq:表面波纹度(均方根偏差)T:广义表面结构(粗糙度或波纹度;均方根偏差)lr:样本长度Z(x):沿X轴的表面轮廓图3:在给定采样长度上测得的光洁度轮廓示例。RQ2表示均方根高度3.均方根斜率:与均方根光洁度和波度类似,光学平滑表面可以使用沿给定采样长度的表面的局部倾斜的均方根斜率dZ(x)dx来指定。 ...
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