IEC TS 62215-2:2007
集成电路.脉冲抗扰度的测量.第2部分:同步瞬时注射法
Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 2: Synchronous transient injection method
- 标准号
- IEC TS 62215-2:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC TS 62215-2:2007
- 引用标准
- IEC 61967-4
- 被代替标准
- IEC 47A/762/DTS:2006 IEC 47A/762/DIS:2006
- 适用范围
- IEC/Ts 62215-2 是一项技术规范，包含评估集成电路（IC）对快速传导同步瞬态骚扰的抗扰度的测试方法的一般信息和定义。该信息后面是测量条件的描述，试验设备和试验装置以及试验程序和试验报告内容的要求。本技术规范的目的是描述获得 IC 抗扰度定量测量的一般条件，建立统一的测试环境。描述了预期影响测试结果的关键参数。与本规范的偏差应在单独的说明中明确注明测试报告。这种同步瞬变抗扰度测量方法，如本规范所述。在导电模式下，使用具有不同幅度、持续时间和极性的快速上升时间的短脉冲到 IC。在这种方法中，所施加的脉冲应与 IC 的活动同步，以确保可以保证受控和可再现的条件．