GB/T 5201-1994
带电粒子半导体探测器测试方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
GBT5201-1994, GB5201-1994
- 标准号
- GB/T 5201-1994
- 别名
- GBT5201-1994, GB5201-1994
- 发布
- 1994年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 5201-2012
- 当前最新
- GB/T 5201-2012
- 适用范围
- 本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。
GB/T 5201-1994相似标准
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