GB/T 6618-1995
硅片厚度和总厚度变化测试方法

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices


GB/T 6618-1995



标准号
GB/T 6618-1995
发布日期
1995年04月18日
实施日期
1995年12月01日
废止日期
2010-06-01
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
29.040.30
发布单位
CN-GB
代替标准
GB/T 6618-2009
适用范围
本标准规定了硅单晶切割片、研磨片和抛光片(简称硅片)厚度和总厚度变化的分立点式和扫描式测量方法。

GB/T 6618-1995系列标准


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