IEC 61124-1997 可靠性试验 恒定失效率和恒定失效密度假设下的验证试验IEC 60605-6-1997 设备可靠性试验 第6部分:恒定失效率和恒定失效密度假设的有效性试验IEC 60605-3-6-1996 设备可靠性试验 第3部分:推荐试验条件 第6节:试验循环6:室外移动设备 粗模拟IEC 60605-3-5-1996 设备可靠性试验 第3部分:推荐试验条件 第5节:试验循环5:地面移动设备...
温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及:GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化3 温度变化的现场条件电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时,其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。...
个人认为不能因此理解为大于这个速率的试验就是温度冲击试验。温度冲击试验的速率比这个情况要严苛。经常能听到说温度冲击的速率大于20度/min,30度/min,50度/分钟,甚至更快。 温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及: GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化 3 温度变化的现场条件 电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。...
个人认为不能因此理解为大于这个速率的试验就是温度冲击试验。温度冲击试验的速率比这个现况要严苛。经常能听到说温度冲击的速率大于20度/min,30度/min,50度/分钟,甚至更快。温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及:GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化3 温度变化的现场条件电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号