DD ENV 50219-1996
欧洲微型试验芯片的可靠性试验结构描述

Description of the reliability test structures of the European mini test chip

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标准号

DD ENV 50219-1996

发布

1996年

发布单位

英国标准学会

 

 

适用范围

Documents the parametrized test structures of the JESSI Reliability Test Chip (RTC) which is part of the European Mini Test Chip (ETC).

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