GB/T 1553-1997
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
GBT1553-1997, GB1553-1997
2010-06
- 标准号
- GB/T 1553-1997
- 别名
- GBT1553-1997, GB1553-1997
- 发布
- 1997年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 1553-2009
- 当前最新
- GB/T 1553-2023
- 适用范围
- 本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。 本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。