GB/T 5095.11-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分;气候试验
Electromechanical components for electronic equipment. Basic testing procedures and measuring methods. Part 11: Climatic tests
GBT5095.11-1997, GB5095.11-1997
- 标准号
- GB/T 5095.11-1997
- 别名
- GBT5095.11-1997, GB5095.11-1997
- 发布
- 1997年
- 采用标准
- IEC 512-11-1:1995 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 5095.11-1997
- 适用范围
- 是确立详细的标准试验方法，以评定元件在正常使用中（包括储存）可能遇到的规定环境中以规定的方式进行工作的能力。
GB/T 5095.11-1997相似标准
推荐
美的集团有限公司选购我司一批阻燃试验箱
参考标准：GB/T 5169.10-2006 电工电子产品着火危险试验 第10部分：灼热丝/热丝基本试验方法 GB∕T 5169.11-2017 电工电子产品着火危险试验 第11部分：灼热丝∕热丝基本试验方法 GB 4706.1-2005家用和类似用途电器的安全第1部分-通用要求 IEC60695 UL746A IEC829 DIN695 VDE0471 3、针焰燃烧试验机是根据标准GB4706.1...
310项推荐性国家标准和5项国家标准修改单的公告
电气用钢纸 第3部分：平板钢纸 2023-02-01143GB/T 2423.24-2022 环境试验 第2部分：试验方法 试验S：模拟地面上的太阳辐射及太阳辐射试验和气候老化试验导则...
关于接触电阻的测量方式介绍
在GB5095“电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法”中的接触电阻测试方法之一，“接触电阻-毫伏法” 规定，为防止接触件上膜层被击穿，测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV，交流或直流的测试中电流应不大于100mA。 在GJB1217“电连接器试验方法”中规定有“低电平接触电阻” 和“接触电阻”两种试验方法。...
关于批准发布《原木检验》等406项国家标准的公告
半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环 2024-07-0115GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查...
GB/T 5095.11-1997系列标准
GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分;总则
GB/T 5095.11-5095.12-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
GB/T 5095.11-5095.12-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法
GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分;锡焊试验 第六篇: 试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂
GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分;接触件和引出端的机械试验 第八篇: 试验15h 接触件固定机构耐工具使用性
GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分;一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法
GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射
GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗
GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比
GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延
GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗
GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动
GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）
GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰
GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分;载流容量试验
GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分;动态应力试验
GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分;撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分;气候试验和锡焊试验
GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分;机械操作试验和密封性试验
GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分;连接器、接触件及引出端的机械试验
GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分;杂项试验