JIS K 1200-5:2000
工业用氢氧化钠.第5部分:硅含量的测定.感应耦合等离子体原子发射光化学分析法
Sodium hydroxide for industrial use -- Part 5: Determination of silicon content -- Inductively coupled plasma atomic emission spectrochemical analysis
- 标准号
- JIS K 1200-5:2000
- 发布
- 2000年
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS K 1200-5:2000
- 适用范围
- この規格は，工業薬品として用いる水酸化ナトリウムの高周波誘導結合プラズマ発光分光分析方法によるけい素含有量の求め方について規定する。
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