ANSI/IEEE 300:1988
半导体带电粒子检测器的试验程序

Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

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标准号

ANSI/IEEE 300:1988

发布

1988年

发布单位

美国国家标准学会

当前最新

ANSI/IEEE 300:1988

 

 

适用范围

This standard applies to semiconductor radiation detectors that are used for the detection of high-resolution spectroscopy of charged particles.

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