ISO/TR 17055:2002
钢.硅含量测定.感应耦合等离子体原子发射光谱测量法
Steel - Determination of silicon content - Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
- 标准号
- ISO/TR 17055:2002
- 发布
- 2002年
- 中文版
- GB/T 223.90-2021 (修改采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO/TR 17055:2002
- 适用范围
- 本技术报告规定了电感耦合等离子体发射光谱法测定钢中硅含量的方法。本方法适用于质量分数0.02%～5%的硅含量。该方法使用的校准基于校准溶液与样品的非常接近的基质匹配以及围绕待分析样品中硅的近似浓度的含量的紧密包围。因此，样品中所有元素的浓度必须大致已知。如果浓度未知，则必须通过某种半定量方法对样品进行分析。此过程的优点是来自矩阵的所有可能的干扰将被自动补偿，这将导致高精度。这对于光谱干扰最为重要，光谱干扰在非常高的合金中可能很严重。然而，所有可能的干扰必须保持在最低限度。因此，所使用的光谱仪必须满足所选分析线方法中规定的性能标准。
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