该两项测原子光谱测厚标准分别是《首饰 金覆盖层厚度的测定 光谱法》(QB/T 1133-2016)和《首饰 银覆盖层厚度的测定 光谱法》(QB/T 1134-2016),分别替代QB/T 1133-1991和QB/T 1134-1991。 ...
图2 发明专利证书方案优势该方法具有专用算法修正镀层对基体组成元素的影响、含镀层贵金属直接测试(无需打磨破坏)、一次分析可以得到镀层厚度和基材元素成分的可靠结果、分析速度快、分析成本低的优点。 图3 不同方法分析误差比较(数据来源于本公司)案例分享贵金属首饰成分分析GB/T 18043-2013《首饰贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》是贵金属首饰成分分析的标准依据。...
X射线荧光光谱法(XRF)的工作原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析出元素成份。XRF实现无损检测,即时分析,零耗材。 贵金属分析仪为质量监督检测机构提供全面珠宝首饰解决方案,满足质检检测单位和实验部门需要,向用户推荐MIDEX贵金属分析仪。...
将此方法与X荧光光谱法检测比较,其目的在于检验此方法可以检验除金以外的其他各元素的准确性,同时通过火试金检测金元素的结果,来判断此方法比X射线荧光光谱法是否更加具备可靠性,分析结果表明此方法检测结果的精密度和准确性要高,同时不会受表层面镀层的影响。此方法消耗的样品极少,但是属于破坏性检测,对于成品首饰无法再恢复,对于原材料等则影响不大。...
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