GB/T2689.3-1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法GB/T2689.4-1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法GB/T 5080.1-2012可靠性试验:第1部分:试验条件和统计检验原理GB/T 5080.2-2012可靠性试验:第2部分:试验周期设计3.产品寿命参数产品主要的寿命参数有:a) 首次大修期限——在规定条件下,产品从开始使用到首次大修的寿命单位数。...
功率半导体器件是新能源、轨道交通、电动汽车、工业应用和家用电器等应用的核心部件。特别是随着新能源电动汽车的高速发展,功率半导体器件的市场更是爆发式的增长,区别于消费电子市场,车规级功率半导体器件由于高工作结温、高功率密度、高开关频率的特性,和更加恶劣的使用环境,使得器件的可靠性显得尤为重要。功率循环作为功率器件耐久性试验中的一种,被工业界和学术界认为是考核功率器件封装可靠性最重要的可靠性测试。...
根据相关标准可知每类器件的失效率模型和参数,通过利用整机的元器件信息开展2轮可靠性预计,可分别得到高温下的电子设备可靠性失效率和常温下的电子设备失效率,从而得到电子设备的加速因子,加速因子评估方法流程见图1。四、标准正文标准第五章试验方法是本标准最重要的内容,包括可靠性强化试验分类、流程、应力设计和实施步骤。其他部分我们忽略。...
根据产品组成特点和试验设备能力,送检方可选择部分试验项目开展可靠性强化试验,可调整试验项目中的试验条件参数,如应力的最大极限值、温变率、保持时间等,以使可靠性强化试验方法得到更广泛的应用。5.1.2 流程可靠性强化试验实施流程和步骤见图1。图1 可靠性强化试验实施流程和步骤注1:各试验是相互独立的,有故障发生时,进行分析、定位、纠正,失效分析。...
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