IEC 60605-6:2007
设备可靠性测试.第6部分:恒定失效率和恒定失效密度的有效性和评估试验

Equipment reliability testing - Part 6: Tests for the validity and estimation of the constant failure rate and constant failure intensity


标准号
IEC 60605-6:2007
发布
2007年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60605-6:2007
 
 
被代替标准
IEC 56/1181/FDIS:2007 IEC 60605-6:1997 IEC 60605-6 Corrigendum 1:2000
适用范围
本标准规定了验证 IEC 60050(191) 中定义的恒定故障率或恒定故障强度假设以及识别故障率或强度模式的程序。每当有必要验证此类假设时,这些程序都适用。这可能是由于要求或为了评估故障率或故障强度随时间的变化的目的。本标准规定的方法的目的如下: ——测试未修复项目的失效时间是否呈指数分布,即失效率是否恒定; – 测试被修复项目的故障间隔时间是否具有任何时间趋势,即故障强度不呈现增加或减少的趋势; – 构建允许显示故障率或故障强度模式的图表,以验证它们是否可以假设为常数,估计它们的值或识别任何偏离恒定性的性质。

IEC 60605-6:2007相似标准


推荐

可靠性寿命试验简介

GB/T2689.3-1981寿命试验和加速寿命试验简单线性无偏估计法GB/T2689.4-1981寿命试验和加速寿命试验最好线性无偏估计法GB/T 5080.1-2012可靠性试验1部分试验条件统计检验原理GB/T 5080.2-2012可靠性试验2部分试验周期设计3.产品寿命参数产品主要寿命参数有:a) 首次大修期限——在规定条件下,产品从开始使用到首次大修寿命单位数。...

干货 | 功率半导体模块封装可靠性试验-功率循环测试

功率半导体器件是新能源、轨道交通、电动汽车、工业应用家用电器等应用核心部件。特别是随着新能源电动汽车高速发展,功率半导体器件市场更是爆发式增长,区别于消费电子市场,车规级功率半导体器件由于高工作结温、高功率密度、高开关频率特性,更加恶劣使用环境,使得器件可靠性显得尤为重要。功率循环作为功率器件耐久性试验一种,被工业界学术界认为是考核功率器件封装可靠性最重要可靠性测试。...

标准解读与推广——科学仪器设备电气系统可靠性强化试验方法

根据相关标准可知每类器件失效率模型参数,通过利用整机元器件信息开展2轮可靠性预计,可分别得到高温下电子设备可靠性失效率常温下电子设备失效率,从而得到电子设备加速因子,加速因子评估方法流程见图1。四、标准正文标准第五章试验方法是本标准最重要内容,包括可靠性强化试验分类、流程、应力设计实施步骤。其他部分我们忽略。...

标准《T/CEEIA 556-2021 机器人控制部件可靠性强化试验方法》解读

根据产品组成特点试验设备能力,送检方可选择部分试验项目开展可靠性强化试验,可调整试验项目中试验条件参数,如应力最大极限值、温变率、保持时间等,以使可靠性强化试验方法得到更广泛应用。5.1.2  流程可靠性强化试验实施流程步骤见图1。图1 可靠性强化试验实施流程步骤注1:各试验是相互独立,有故障发生时,进行分析、定位、纠正,失效分析。...


谁引用了IEC 60605-6:2007 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号