JEDEC JESD57-1996
重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程

Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation

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标准号: JEDEC JESD57-1996
发布: 1996年
发布单位: (美国)固态技术协会,隶属EIA

适用范围: 该测试方法定义了集成电路地基单粒子效应 (SEE) 测试的要求和程序。

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