GB/T 4060-2007
硅多晶真空区熔基硼检验方法

Polycrystalline silicon.Examination method.Vacuum zone-melting on boron

GBT4060-2007, GB4060-2007

2019-06

标准号
GB/T 4060-2007
别名
GBT4060-2007, GB4060-2007
发布
2007年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 4060-2018
当前最新
GB/T 4060-2018
 
 
引用标准
GB/T 13389 GB/T 14264 GB/T 1551 GB/T 1554 GB/T 1555
被代替标准
GB/T 4060-1983
适用范围
本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的检验。本标准检测杂质浓度有效范围:0.002×10~100×10

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