DIN EN 60749-16:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003); German version EN 60749-16:2003

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标准号

DIN EN 60749-16:2003

发布

2003年

发布单位

德国标准化学会

当前最新

DIN EN 60749-16:2003

 

 

被代替标准

DIN EN 60749-16:2002

适用范围

The test described in this standard is used to detet the presence of loose particles inside a cavity device, such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).

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