GB/T 4930-2008
微束分析.电子探针分析.标准样品技术条件导则
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Guidelines for the specification of certified reference materials(CRMs)
GBT4930-2008, GB4930-2008
2021-12
- 标准号
- GB/T 4930-2008
- 别名
- GBT4930-2008, GB4930-2008
- 发布
- 2008年
- 采用标准
- ISO 14595:2003 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 4930-2021
- 当前最新
- GB/T 4930-2021
- 引用标准
- ISO 导则 31:2000
- 被代替标准
- GB/T 4930-1993
- 适用范围
- 本标准给出了用于电子探针分析的单相标样，并规定了标样仅应用在平整抛光表面的显微分析中。 本标准不包括有机物和生物标样。
GB/T 4930-2008相似标准
推荐
简介电子探针显微分析的特点
1.显微结构分析 电子探针是利用0.5μm－1μm的高能电子束激发待分析的样品，通过电子与样品的相互作用产生的特征X射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样品的微区内(μm范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm范围内的微区分析， 微区分析是它的一个重要特点之一, 它能将微区化学成份与显微结构对应起来，是一种显微结构的分析。 2....
超简洁！SEM与EPMA对比总结
EMPA主要追求微区化学定量结果精准，因此电子光学分辨率设计相对宽松，电子显微分析对汇聚束束电流要求较大，束斑较粗。 早期EPMA成像手段主要采用同轴光学显微镜，然后移动样品台或移动汇聚电子束，找到感兴趣区，当前依然保留同轴光镜，用来校准WD。EMPA对电子光学系统工作条件的稳定性要求超过SEM很多很多，控制系统增加了一些负反馈机制，确保分析条件和标样分析保持很小的误差。 ...
扫描电镜之阴极发光
当晶体中掺入杂质原子时，一般会在 满带与导带的能量间隔中产生局部化的能级 G 和 A， 这可能是属于这些激活原 子本身的能级，也可能是在激活原子的微扰下主体原子的能级。在基态时，G 能级被电子所 占据，A 能级是空的。在激发态则相反。样品在入射电子的激发下产生大量自 由载流子，满带中的空穴很快就被 G 能级上的电子所捕获， 而导带中的电子为 A 能级所陷 住。...
2013年度北京电子显微学年会大会报告（二）
通常来说，电子探针-能谱定量分析可能比较容易，而对于扫描电镜能谱定量分析，则难度较大，但也是完全可以实现的。 GB/T 20726-2006 ISO 15632:2002微束分析-半导体探测器X射线能谱仪通则，该标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的量值。...
GB/T 4930-2008 中可能用到的仪器设备
谁引用了GB/T 4930-2008 更多引用
GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法
GB/T 33165-2016 高碳钢盘条中心偏析定量分析方法
GB/T 18735-2014 微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范
JB/T 12074-2014 复合金属材料成分的测定 电子探针法
HB 8422-2014 合金中微量元素电子探针定量分析方法
GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法
SY/T 6027-2012 岩石矿物电子探针定量分析方法
GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
GB/T 25189-2010 微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法
GB/T 17363.1-2009 黄金制品金含量无损测定方法.第1部分:电子探针微分析法