ISO 18756:2003
细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用弯曲时的表面裂纹(SCF)法测定室温下块体陶瓷的断裂韧性

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of fracture toughness of monolithic ceramics at room temperature by the surface crack in flexure (SCF) method


标准号
ISO 18756:2003
发布
2003年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 18756:2003
 
 
引用标准
ISO 14704:2000 ISO 3611:1978
适用范围
本国际标准描述了一种测试方法,涵盖通过表面弯曲裂纹(SCF)法测定整体陶瓷材料在室温下的断裂韧性。 本国际标准适用于整体陶瓷和晶须或颗粒增强陶瓷,这些陶瓷被认为是宏观均匀的。 它不包括连续纤维增强陶瓷复合材料。 该测试方法适用于具有平坦或上升的裂纹扩展阻力曲线的材料。 该方法与 ISO 15732 类似,只是预裂纹更小并且是通过不同的程序形成的。 对于具有平坦 R 曲线的材料,这些方法应产生相似或相同的结果。 注:本试验方法通常适用于断裂韧性小于约10 MPa·m的陶瓷材料。 对于断裂韧性较大的材料或软(低硬度)材料(例如某些氧化锆)或多孔陶瓷,用努氏压头可能难以形成预裂纹。

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