这一过程被称之为俄歇效应一元素受激发后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和终能态的能量差别,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是来源于样品组成的特征辐射。通过侧定和分析X射线的能量或波长,即可获知其为何种元素,故可用来识别物质组成,定量分析物质中的元素含量。 ...
光电子出射时有可能再次激发出原子中的其他电子,生成的光电子被称为俄歇电子,产生新的光电子。再次这一过程被称之为俄歇效应一元家受激发后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和最终能态的能量差别,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是来源于样品组成的特征辐射。...
2.X射线荧光光谱仪(XRF)参见体相成分分析X射线荧光光谱仪(XRF)3.俄歇电子能谱仪(AES)原理:具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应,通过检测俄歇电子的能量和强度,从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。适合分析材料:金属、高分子等材料,薄膜,涂层等应用领域:半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等。...
此时,整个原子体系由一开始的稳定状态变为不稳定的激发态,从而产生退激反应,即电子会自发地从高 能级向低能级跃迁。在跃迁过程中产生的能量可能会再次激发轨道上的其他电子被驱逐出去,产生俄歇电子,这个现象称为俄歇效应。当原子外层能级轨道上的电子向内层能级轨道跃迁填充空穴时,产生的能量不能被完全吸收就会以X射线荧光的形式呈现出来,这两个轨道的能量差就是元素辐射的强度值。 ...
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