ASTM E521-96
用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的规程

Standard Practice for Neutron Radiation Damage Simulation by Charged-Particle Irradiation

被代替

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标准号

ASTM E521-96

发布

1996年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E521-96(2003)

当前最新

ASTM E521-23

 

 

适用范围

1.1 本实践为金属和合金的带电粒子辐照提供了指导。它通常仅限于使用停留在样品中的低穿透力离子进行的微观结构和微观化学变化的研究。可以直接测量密度变化，并可以推断其他特性的变化。该信息可用于估计中子辐照引起的类似变化。更一般地说，这些信息对于推断各种材料和辐照条件的辐射损伤的基本机制很有价值。
1.2 此处使用的“模拟”一词具有广义含义，意指相关中子辐照环境的近似值。一致性程度可以从很差到几乎完全一致。目的是在中子和带电粒子辐照的一个或多个方面之间产生对应关系，以便在辐照或材料参数与材料响应之间建立基本关系。
1.3 实践如下： 章节 设备 4 样品制备 5-10 辐照技术（包括氦注入） 11-12 损伤计算 13 辐照后检查 14-16 结果报告 17 相关性和解释 18-22 1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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