ASTM E1217-05
用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron Spectrometers

被代替

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标准号

ASTM E1217-05

发布

2005年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1217-11

当前最新

ASTM E1217-11(2019)

 

 

适用范围

1.1 本实践描述了当样品区域由电子能量分析仪的电子收集透镜和孔径系统定义时，确定对俄歇电子能谱仪和某些类型的 X 射线光电子能谱仪中检测到的信号有贡献的样品区域的方法。该做法仅适用于那些由入射 X 射线束激发的样品区域大于分析仪观察到的样品区域的 X 射线光电子能谱仪，其中光电子在样品的无场区域中传播到分析仪入口，其中可以安装辅助电子枪，以在样品上产生可变能量的电子束。
1.2 建议将这种做法作为确定分析仪在不同光谱仪条件下观察到的样品面积的有用方法。操作，验证样品和光束是否充分对准，以及表征电子能量分析仪的成像特性。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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