GB/T 1555-2009
半导体单晶晶向测定方法

Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal


标准号
GB/T 1555-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
发布单位
CN-GB
引用标准
GB/T 2481.1-1998 GB/T 2481.2-2009 GB/T 14264-2009
被代替标准
GB/T 1555-1997
适用范围
本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。 本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。

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