GB/T 1555-2009
半导体单晶晶向测定方法

Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

GBT1555-2009, GB1555-2009

2024-03

标准号
GB/T 1555-2009
别名
GBT1555-2009, GB1555-2009
发布
2009年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 1555-2023
当前最新
GB/T 1555-2023
 
 
引用标准
GB/T 14264-2009 GB/T 2481.1-1998 GB/T 2481.2-2009
被代替标准
GB/T 1555-1997
适用范围
本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。 本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。

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