XPS作为一种高效的表面分析手段,不仅广泛应用于化学分析、材料应用开发、物理理论研究等学术领域,对于机械加工、印刷电路、镀膜材料工艺控制和纳米功能材料开发等工业领域,也能提供全方位的解决方案。随着表面分析技术拓展性的逐渐增强,各类型材料对于XPS表征分析的需求都日益增长。今年赛默飞世尔科技(中国)有限公司发布了全新一代Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X射线光电子能谱仪。...
备注:EDS或EDX指能量色散X射线光谱仪,全称为Energy Dispersive X-ray Spectroscopy。 C. 化合物中元素化学态与结构分析——窄区扫描(高分辨谱) 1. 什么叫荷电校正?为什么需要进行荷电校正? 当用XPS测量绝缘体或者半导体时,由于光电子的连续发射而得不到电子补充,使得样品表面出现电子亏损,这种现象称为“荷电效应”。...
五、荷电中和系统用XPS测定绝缘体或半导体时,由于光电子的连续发射而得不到足够的电子补充,使得样品表面出现电子“亏损”,这种现象称为“荷电效应”。 荷电效应将使样品出现一个稳定的表面电势VS,它对光电子逃离有束缚作用,使谱线发生位移,还会使谱锋展宽、畸变。因此XPS中的这个装置可以在测试时产生低能电子束,来中和试样表面的电荷,减少荷电效应。...
#绝缘体分析Nexsa G2 系统上的一键式自动电荷补偿系统可轻松实现绝缘样品分析。专利的双束中和源避免绝缘样品发生荷电,因为使用极低能量的电子,大多数情况下将无需进行荷电校正。#深度剖析Nexsa G2 系统配备有标准离子源或 MAGCIS(可选的单粒子和气体团簇复合型离子源) 进行深度剖析。自动离子源优化和气路控制可确保卓越的性能和实验重现性。...
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