ASTM E2426-10
通过用次级离子质谱法测量同位素比率对脉冲计算系统死时间测定的标准实施规程

Standard Practice for Pulse Counting System Dead Time Determination by Measuring Isotopic Ratios with SIMS

被代替

标准号

ASTM E2426-10

发布

2010年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E2426-10(2019)

当前最新

ASTM E2426-10(2019)

 

 

引用标准

ASTM E673 ISO 21270

适用范围

电子倍增器通常用于脉冲计数模式，以检测来自扇形磁质谱仪的离子。用于放大、检测和计数来自电子倍增器的脉冲的电子器件在检测到脉冲之后总是具有特征时间间隔，在此期间不能对其他脉冲进行计数。该特征时间间隔称为“死区时间”。与“真实”计数相比，死区时间会降低测量的计数率。计数率。为了在脉冲计数检测器（例如电子倍增器）的整个动态范围内准确测量计数率，必须熟知整个脉冲计数系统的死区时间。准确的计数率测量构成了同位素比测量以及元素丰度测定的基础。本文描述的程序已成功用于确定 SIMS 仪器上计数系统的死区时间。通过该方法准确确定死区时间一直是 SIMS 精密同位素比测量的关键组成部分。
1.1 这种做法为二次离子质谱 (SIMS) 分析人员提供了一种确定脉冲计数死区时间的方法仪器上的检测系统。这种做法还允许分析人员确定表观死区时间是否与计数率无关。
1.2 这种做法适用于大多数类型的带有脉冲计数检测器的质谱仪。
1.3 本实践并未描述精确或准确的同位素比测量方法。
1.4 本实践并未描述脉冲计数系统和质谱检测器的正确操作方法。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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