NF X21-070*NF ISO 14237:2010
表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度.

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 NF X21-070*NF ISO 14237:2010 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
NF X21-070*NF ISO 14237:2010
发布
2010年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
NF X21-070*NF ISO 14237:2010
 
 
代替标准
GOST 29104.5-1991

NF X21-070*NF ISO 14237:2010相似标准


推荐


NF X21-070*NF ISO 14237:2010 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号