GJB 6777-2009
军用电子元器件252Cf源单粒子效应实验方法
Testing method of single event effects in Cf radiation source for military electronic devices
- 标准号
- GJB 6777-2009
- 发布
- 2009年
- 发布单位
- 国家军用标准-总装备部
- 当前最新
- GJB 6777-2009
- 引用标准
- GB 18871-2002 GJB 2172-1996 GJB 3756-1999
- 适用范围
- 本标准规定了军用电子元器件<左上标252>Cf源上进行实验室单粒子效应实验的方法和基本要求。 本标准适用于军用电子元器件<左上标252>Cf源单粒子效应试验。商用电子元器件亦可参照执行。