为适应行业发展,国家有色金属标准化技术委员会于2010年制定了《GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X射线荧光光谱法》,分析工业硅中的Fe、Al、Ca。2014年在旧版的基础上,制定了《GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》,扩大了分析范围。...
2017-07-01 GB/T 7739.12-2016 金精矿化学分析方法 第12部分:砷、汞、镉、铅和铋量的测定 原子荧光光谱法 2017-07-01 GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法 2017-07-01 GB/T 14849.11-2016 工业硅化学分析方法 第11部分:铬含量的测定 二苯碳酰二肼分光光度法...
、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法22.03.0922.10.01GB/T 8152.16-2022铅精矿化学分析方法 第16部分:氧化钙含量的测定 火焰原子吸收光谱法22.03.0922.10.01GB/T 6609.30-2022氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分:微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法22.03.0922.10.01GB/T 3286.11-2022...
2022YSCPZT2647-2020高硫渣化学分析方法 第2部分:银含量的测定 火焰原子吸收光谱法制定2022YSCPZT2648-2020氧化铟化学分析方法 第2部分:砷含量的测定 原子荧光光谱法制定2022YSCPZT2649-2020钒铝、钼铝中间合金化学分析方法 第14部分:痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法制定2022YSCPZT2650-2020氧化铟化学分析方法 第1部分...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号