IEC 60749-30:2011
半导体器件的机械和环境试验.第30部分:非密封表面安装设备可靠性测试前的预处理

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

2011-08

 

 

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标准号
IEC 60749-30:2011
发布
2011年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-30:2005/AMD1:2011
当前最新
IEC 60749-30:2020 RLV
 
 

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