BS EN 60749-30-2005+A1-2011
半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

 

 

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标准号
BS EN 60749-30-2005+A1-2011
发布日期
2006年01月27日
实施日期
2006年01月27日
废止日期
无
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
GB-BSI
被代替标准
BS EN 60749-30-2005

BS EN 60749-30-2005+A1-2011系列标准

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