NF C96-022-30/A1-2011
半导体设备.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前对非密封表面安装器件的预处理

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30 : preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.

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标准号

NF C96-022-30/A1-2011

发布日期

2011年11月01日

实施日期

2011年11月26日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

FR-AFNOR

NF C96-022-30/A1-2011 中可能用到的仪器设备