GB/T 28634-2012
微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
GBT28634-2012, GB28634-2012
- 标准号
- GB/T 28634-2012
- 别名
- GBT28634-2012, GB28634-2012
- 发布
- 2012年
- 采用标准
- ISO 22489:2006 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 28634-2012
- 引用标准
- GB/T 17359-2012 GB/T 27025-2006 GB/T 27025-2008 GB/T 4930 ISO 14594
- 适用范围
- 本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS）,通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。 内容包括： ——定量分析原理； ——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围； ——仪器的一般要求； ——有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。 本标准适用于电子束垂直入射，要求定量分析的试块试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。
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