IEC 62396-2:2012
航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第2部分:航空电子系统用单粒子事件检测导则

Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems

被代替

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标准号

IEC 62396-2:2012

发布

2012年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 62396-2:2017

当前最新

IEC 62396-2:2017

 

 

被代替标准

IEC 107/186/FDIS:2012 IEC/TS 62396-2:2008

适用范围

IEC 62396 的这一部分旨在提供与微电子设备测试相关的指导，以测量其对大气中子引起的单粒子效应 (SEE) 的敏感性。由于测试可以通过多种不同的方式@使用不同种类的辐射源@进行，因此还展示了如何使用测试数据来估计由于飞机高度处的大气中子而导致的设备和电路板的SEE率。虽然是为航空电子工业开发的，但该工艺也可以应用于其他工业部门。

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