从原理到应用,关于AFM你想了解的都在这里~原子力显微镜(AFM)的使用和成像技巧拿到AFM数据后,你有哪些处理方式?原子力显微镜(AFM)知识汇总第一块 基本知识和原理原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜。原子力显微镜通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。...
原子力显微镜的应用范围十分广泛,其适用于生物、高分子、陶瓷、金属材料、矿物、皮革等固体材料等的显微结构和纳米结构的观测,以及粉末、微球颗粒形状、尺寸及粒径分布的观测等。原子力显微镜的三种工作模式 目前原子力显微镜有三种工作模式,接触模式、轻敲模式和非接触模式。 1、接触模式 原子力显微镜接触模式包括恒力模式和恒高模式。 ...
相位移模式原子力显微镜作为轻敲模式的一项重要的扩展技术,相位移模式通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差(即两者的相移)的变化来成像。引起该相移的因素很多,如样品的组分、硬度、粘弹性质等。因此利用相位移模式,可以在纳米尺度上获得样品表面局域性质的丰富信息。相位移模式已成为原子力显微镜/AFM的一种重要检测技术。图3 相位移模式测试原理示意图 ...
可提供其他SFM技术所不能揭示的,关于表面纳米尺度的结构信息。它是通过轻敲模式扫描过程中振动微悬臂的相位变化来检测表面组分、粘附性、摩擦、粘弹性和其他性质变化的。对于识别表面污染物、复合材料中的不同组分以及表面粘性或硬度不同的区域是非常有效的。同原子力显微镜(AFM)轻敲模式成像技术一样快速、简便,并具有可对柔软、粘附、易损伤或松散结合样品进行成像的优点。...
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